Intel Chiplet 01

OCP และ JEDEC เปิดตัวมาตรฐานใหม่ สำหรับการออกแบบและใช้งาน Chiplet พลิกโฉมอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์

ในโลกของอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์ การพัฒนาชิปเล็ต (Chiplet) กำลังกลายเป็นแนวทางหลักสำหรับการออกแบบชิปยุคใหม่ ล่าสุด Open Compute Project Foundation (OCP) และ JEDEC Solid State Technology Association ได้ประกาศเปิดตัว Chiplet Design Kits ชุดใหม่ ซึ่งจะช่วยให้ผู้ผลิตสามารถออกแบบและพัฒนาชิปเล็ตได้อย่างมีมาตรฐานและมีประสิทธิภาพมากขึ้น

Chiplet Design Kits ชุดใหม่นี้ได้รวมอยู่ใน JEDEC JEP30: Part Model Guidelines ซึ่งเป็นมาตรฐานสากลที่ช่วยให้ผู้ผลิตชิปสามารถสื่อสารข้อมูลของชิปเล็ตในรูปแบบอิเล็กทรอนิกส์ที่เป็นมาตรฐาน ลดความซับซ้อนของกระบวนการออกแบบและผลิต

รายละเอียดทางเทคนิคของ Chiplet Design Kits

ชุดออกแบบใหม่นี้ประกอบไปด้วยองค์ประกอบสำคัญ 4 ส่วน ได้แก่

  1. Assembly & Substrate Design Kits
    • กำหนดมาตรฐานสำหรับการรวมชิปเล็ตที่มีโครงสร้างแตกต่างกันให้สามารถทำงานร่วมกันได้
    • มีรูปแบบการกำหนดค่าทางเรขาคณิต (Geometries), เลเยอร์ (Layers), การเชื่อมต่อ (Interconnects) และกระบวนการประกอบ (Assembly processes) ที่เป็นมาตรฐาน
    • รองรับ ระบบ interposer และ redistribution layers (RDL) ซึ่งใช้ในการเชื่อมต่อชิปเล็ตแบบ 2.5D และ 3D
  2. Material Design Kit
    • เป็นกรอบแนวทางสำหรับการคัดเลือกวัสดุและการตรวจสอบคุณสมบัติของวัสดุที่ใช้ใน SiP
    • คำนึงถึงคุณสมบัติสำคัญ เช่น
      • ค่าคงที่ไดอิเล็กทริก (Dielectric constant) เพื่อควบคุมการสูญเสียสัญญาณ
      • การนำความร้อน (Thermal conductivity) เพื่อช่วยในการกระจายความร้อน
      • ความแข็งแรงทางกลไก (Mechanical strength) เพื่อความทนทานของโครงสร้าง
  3. Test Design Kit
    • เป็นมาตรฐานสำหรับการวางแผน, ออกแบบ, และผลิตชิปเล็ต โดยให้ความสำคัญกับการทดสอบ (Testability)
    • กำหนดแนวทางมาตรฐานสำหรับองค์ประกอบที่เกี่ยวข้องกับการทดสอบ เช่น
      • การกำหนดจุดทดสอบ (Test elements)
      • กระบวนการตรวจสอบความถูกต้องของชิปเล็ตที่บูรณาการ (Test flow requirements)
      • การกำหนดองค์ประกอบที่ใช้สำหรับการทดสอบโดยเฉพาะ (Test-only elements)
  4. มาตรฐานด้านความปลอดภัย
    • ไฟล์ของมาตรฐานต่าง ๆ ในชุดออกแบบใหม่นี้จะถูกเข้ารหัสลายเซ็นดิจิทัล (Digitally signed) เพื่อป้องกันการปลอมแปลงหรือความเสียหายของข้อมูลระหว่างการส่งต่อระหว่างผู้ผลิตชิปเล็ตและลูกค้า
Chiplet
ภาพจาก Intel: การใช้ Chiplet ในซีพียู Xeon

ผลกระทบต่อผู้ผลิตชิป

มาตรฐานใหม่ของ OCP และ JEDEC ทำให้กระบวนการออกแบบและพัฒนาชิปเล็ตเป็นไปอย่างเป็นระบบมากขึ้น ผู้ผลิตสามารถเลือกใช้ชิปเล็ตจากหลายแหล่งได้โดยไม่ต้องกังวลเรื่องความเข้ากันได้ ซึ่งจะช่วยลดต้นทุนและเวลาในการพัฒนา โดยเฉพาะอย่างยิ่ง บริษัท Fabless (บริษัทที่ออกแบบชิปแต่ไม่ได้ผลิตเอง) จะสามารถเข้าถึงตลาดได้ง่ายขึ้น

อย่างไรก็ตาม สำหรับผู้ผลิตชิปแบบครบวงจร (Integrated Device Manufacturers – IDM) เช่น Intel, AMD และ TSMC อาจต้องปรับกลยุทธ์ เพราะแนวทางใหม่เปิดโอกาสให้บริษัทขนาดเล็กสามารถแข่งขันได้มากขึ้น

ผลกระทบต่อผู้ใช้ทั่วไป

เทคโนโลยีนี้อาจส่งผลให้ อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์มีประสิทธิภาพสูงขึ้น ในราคาที่ถูกลง เนื่องจากกระบวนการผลิตที่มีประสิทธิภาพและต้นทุนลดลง ผู้ใช้ทั่วไปอาจได้รับประโยชน์จาก คอมพิวเตอร์, สมาร์ทโฟน, และอุปกรณ์ IoT ที่มีสมรรถนะดีขึ้น และอาจช่วยบรรเทาผลกระทบจากภาวะขาดแคลนชิปในอนาคต

โดยสรุป การประกาศของ OCP และ JEDEC ครั้งนี้ถือเป็นก้าวสำคัญที่อาจเปลี่ยนโฉมอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์ไปสู่ระบบที่เปิดกว้างขึ้น ซึ่งจะเป็นประโยชน์ทั้งต่อผู้ผลิตและผู้บริโภคในอนาคต